MODIFIED LINEAR SWEEP TECHNIQUE FOR MOS-C GENERATION RATE MEASUREMENTS

被引：40

作者：

PIERRET, RF ^{[1
]}

SMALL, DW ^{[1
]}

机构：

[1] PURDUE UNIV, SCH ELECTR ENGN, W LAFAYETTE, IN 47907 USA

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES | 1975年 / 22卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1109/T-ED.1975.18270

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

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页码：1051 / 1052

页数：2

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共 2 条

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