MIND - AN INSIDE LOOK AT AN EXPERT SYSTEM FOR ELECTRONIC DIAGNOSIS

被引：2
作者：
WILKINSON, AJ
机构：
来源：
IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 1985年 / 2卷 / 04期
关键词：
D O I：
10.1109/MDT.1985.294748
中图分类号：
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
引用
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页码：69 / 77
页数：9
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