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RECOGNIZING LIMITATIONS IN EDDY-CURRENT TESTING
被引：22
作者：
VANDRUNEN, G
CECCO, VS
机构：
来源：
NDT INTERNATIONAL
|
1984年
/
17卷
/
01期
关键词：
D O I：
10.1016/0308-9126(84)90108-1
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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