DEGRADATION OF POWER-TEMPERATURE AND FREQUENCY-TEMPERATURE PERFORMANCE OF IMPATT DIODES AT LOWER FREQUENCIES

被引：0

作者：

TOZER, RC ^{[1
]}

HOBSON, GS ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV SHEFFIELD,DEPT ELECTR & ELECT ENGN,SHEFFIELD S1 3JD,ENGLAND

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES | 1975年 / ED22卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1109/T-ED.1975.18096

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

收藏

页码：156 / 158

页数：3

相关论文

共 4 条

[1]

ALTMAN JL, MICROWAVE CIRCUITS, pCH1

[2]

CHARLTON R, 1974, IEEE T MICROWAVE THE, VMT22, P806

[3] FREQUENCY/TEMPERATURE RELATIONSHIPS OF CW IMPATT DIODES [J].

TOZER, RC ;

HOBSON, GS .

ELECTRONICS LETTERS, 1972, 8 (03) :74-+

[4]

TOZER RC, TO BE PUBLISHED