FULL-SPEED TESTING OF A/D CONVERTERS

被引：314

作者：

DOERNBERG, J ^{[1
]}

LEE, HS ^{[1
]}

HODGES, DA ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CALIF BERKELEY,ELECTR RES LAB,BERKELEY,CA 94720

来源：

IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS | 1984年 / 19卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/JSSC.1984.1052232

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：820 / 827

页数：8

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共 6 条

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