FULL-SPEED TESTING OF A/D CONVERTERS

被引：313
作者：
DOERNBERG, J [1 ]
LEE, HS [1 ]
HODGES, DA [1 ]
机构：
[1] UNIV CALIF BERKELEY,ELECTR RES LAB,BERKELEY,CA 94720
来源：
IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS | 1984年 / 19卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1109/JSSC.1984.1052232
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
引用
收藏
页码：820 / 827
页数：8
相关论文
共 6 条
  • [1] [Anonymous], P IEEE
  • [2] BELCHER RA, 1977, BBC197740 RES DEP RE
  • [3] CORCORAN JJ, 1975, IEEE T INSTRUM MEAS, V24
  • [4] CHARACTERIZING AND TESTING A-D AND D-A CONVERTERS FOR COLOR VIDEO APPLICATIONS
    KESTER, WA
    [J]. IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS, 1978, 25 (07): : 539 - 550
  • [5] MURVEIT H, 1983, THESIS U CALIFORNIA
  • [6] 5180A2 HEWL PACK PRO
1