INVESTIGATION OF THE X-RAY-SCATTERING INTENSITY FOR THE LAUE-CASE DIFFRACTION UNDER TOTAL-EXTERNAL-REFLECTION CONDITIONS

被引：25
作者：
GOLOVIN, AL
IMAMOV, RM
机构：
来源：
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1983年 / 77卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1002/pssa.2210770170
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
引用
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页码：K91 / K94
页数：4
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共 3 条
[1]  
AFANSEV AM, 1983, UNPUB ACTA CRYST A, V39
[2]  
KOVEV EK, 1981, FIZ TVERD TELA+, V23, P587
[3]   X-RAY TOTAL-EXTERNAL-REFLECTION-BRAGG DIFFRACTION - STRUCTURAL STUDY OF THE GAAS-AL INTERFACE [J].
MARRA, WC ;
EISENBERGER, P ;
CHO, AY .
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1979, 50 (11) :6927-6933
1