ELECTRON BIPRISM INTERFERENCE-FRINGES OF 0.08 NM SPACING FOR HIGH-RESOLUTION ELECTRON HOLOGRAPHY

被引：0

作者：

LICHTE, H

机构：

来源：

OPTIK | 1985年 / 70卷 / 04期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

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页码：176 / 177

页数：2

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共 3 条

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