MORE REALISTIC RELIABILITY-ANALYSIS BY CONDITIONAL DISTRIBUTIONS

被引：3

作者：

HEIDTMANN, KD

机构：

来源：

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1983年 / 23卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0026-2714(83)90333-5

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：261 / 268

页数：8

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共 4 条

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