LSI YIELD PROJECTIONS BASED UPON TEST PATTERN RESULTS - APPLICATION TO MULTILEVEL METAL STRUCTURES

被引：10

作者：

TURLEY, AP ^{[1
]}

HERMAN, DS ^{[1
]}

机构：

[1] WESTINGHOUSE ELECT CORP,ADV TECHNOL LABS,BALTIMORE,MD 21203

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON PARTS HYBRIDS AND PACKAGING | 1974年 / PH10卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1109/TPHP.1974.1134868

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页数：5