STRUCTURAL AND ELECTRICAL-PROPERTIES OF CRSI2 THIN-FILM RESISTORS

被引：28

作者：

HIEBER, K ^{[1
]}

DITTMANN, R ^{[1
]}

机构：

[1] SIEMENS AG,FORSCH LAB,D-8000 MUNICH 80,FED REP GER

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(76)90033-X

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：357 / 360

页数：4

共 11 条

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