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INFRARED RADIATION MEASUREMENT USING GRADIENT INDEX FLAT LENS
被引:0
作者
:
BASTAWROS, A
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0
BASTAWROS, A
GIRGIS, GA
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GIRGIS, GA
机构
:
来源
:
OPTIK
|
1986年
/ 73卷
/ 01期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O43 [光学];
学科分类号
:
070207 ;
0803 ;
摘要
:
引用
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页数:3
相关论文
共 4 条
[1]
BORN M, 1957, PRINCIPLES OPTICS
[2]
FLAT DISK, RADIALLY NON-HOMOGENEOUS, LENSES
CORNBLEET, S
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CORNBLEET, S
[J].
IEE PROCEEDINGS-H MICROWAVES ANTENNAS AND PROPAGATION,
1980,
127
(06)
: 330
-
334
[3]
HOLTER MR, 1962, FUNDAMENTALS INFRARE
[4]
OPTICAL-PROPERTIES OF THIN-LAYERS OF SIOX
LEVY, Y
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机构:
IBM CORP, RES LAB, SAN JOSE, CA 95193 USA
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LEVY, Y
JURICH, M
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机构:
IBM CORP, RES LAB, SAN JOSE, CA 95193 USA
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JURICH, M
SWALEN, JD
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机构:
IBM CORP, RES LAB, SAN JOSE, CA 95193 USA
IBM CORP, RES LAB, SAN JOSE, CA 95193 USA
SWALEN, JD
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1985,
57
(07)
: 2601
-
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共 4 条
[1]
BORN M, 1957, PRINCIPLES OPTICS
[2]
FLAT DISK, RADIALLY NON-HOMOGENEOUS, LENSES
CORNBLEET, S
论文数:
0
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0
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CORNBLEET, S
[J].
IEE PROCEEDINGS-H MICROWAVES ANTENNAS AND PROPAGATION,
1980,
127
(06)
: 330
-
334
[3]
HOLTER MR, 1962, FUNDAMENTALS INFRARE
[4]
OPTICAL-PROPERTIES OF THIN-LAYERS OF SIOX
LEVY, Y
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IBM CORP, RES LAB, SAN JOSE, CA 95193 USA
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LEVY, Y
JURICH, M
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IBM CORP, RES LAB, SAN JOSE, CA 95193 USA
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JURICH, M
SWALEN, JD
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IBM CORP, RES LAB, SAN JOSE, CA 95193 USA
IBM CORP, RES LAB, SAN JOSE, CA 95193 USA
SWALEN, JD
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1985,
57
(07)
: 2601
-
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