EASY AND ACCURATE METHOD FOR CHARACTERIZATION OF DIELECTRIC MATERIALS AT X-BAND

被引：1
作者：
HIGGINS, ID [1 ]
机构：
[1] MULLARD RES LABS,REDHILL RH1 5HA,SURREY,ENGLAND
来源：
ELECTRONICS LETTERS | 1976年 / 12卷 / 22期
关键词：
D O I：
10.1049/el:19760437
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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共 2 条
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