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2 4K STATIC 5-V RAMS
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|
作者
:
SCHLAGETER, JM
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机构:
ADV MICRO DEVICES,SUNNYVALE,CA 94086
ADV MICRO DEVICES,SUNNYVALE,CA 94086
SCHLAGETER, JM
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]
JAYAKUMAR, N
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ADV MICRO DEVICES,SUNNYVALE,CA 94086
ADV MICRO DEVICES,SUNNYVALE,CA 94086
JAYAKUMAR, N
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KROEGER, JH
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ADV MICRO DEVICES,SUNNYVALE,CA 94086
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KROEGER, JH
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SARKISSIAN, V
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SARKISSIAN, V
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]
机构
:
[1]
ADV MICRO DEVICES,SUNNYVALE,CA 94086
来源
:
IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS
|
1976年
/ 11卷
/ 05期
关键词
:
D O I
:
10.1109/JSSC.1976.1050787
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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共 50 条
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USERS GUIDE TO 4K AND 8K STATIC RAMS
METZGER, J
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METZGER, J
ELECTRONIC PRODUCTS MAGAZINE,
1978,
20
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A 5V-ONLY 4K NON-VOLATILE STATIC RAM
BECKER, NJ
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BECKER, NJ
DHAM, VK
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DHAM, VK
LEE, DJ
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SCHLAFLY, AL
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SKUPNJAK, JA
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1983,
26
: 170
-
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[3]
SINGLE EVENT UPSET VULNERABILITY OF SELECTED 4K AND 16K CMOS STATIC RAMS
KOLASINSKI, WA
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KOLASINSKI, WA
KOGA, R
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KOGA, R
BLAKE, JB
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BLAKE, JB
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BRUCKER, G
PANDYA, P
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PANDYA, P
PETERSEN, E
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HUGHES AIRCRAFT CO,NEWPORT BEACH,CA 92663
PETERSEN, E
PRICE, W
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HUGHES AIRCRAFT CO,NEWPORT BEACH,CA 92663
PRICE, W
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,
1982,
29
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: 2044
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[4]
SELECTING TEST PATTERNS FOR 4K RAMS
SOHL, WE
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MACRODATA CORP,WOODLAND HILLS,CA 91367
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IEEE TRANSACTIONS ON MANUFACTURING TECHNOLOGY,
1977,
6
(03):
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[5]
THE RELATIVE EFFICIENCY OF SOFT-ERROR INDUCTION IN 4K STATIC RAMS BY MUONS AND PIONS
DICELLO, JF
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UNIV CALIF LOS ALAMOS NATL LAB,LOS ALAMOS,NM 87545
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DICELLO, JF
MCCABE, CW
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MCCABE, CW
DOSS, JD
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DOSS, JD
PACIOTTI, M
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UNIV CALIF LOS ALAMOS NATL LAB,LOS ALAMOS,NM 87545
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PACIOTTI, M
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1983,
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[6]
SELECTING TEST PATTERNS FOR 4K RAMS.
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Sohl, Wayne E.
1977,
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CMOS 4K STATIC RAM
ONOYAMA, A
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ONOYAMA, A
KAWAKAMI, T
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ASAHI, K
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SUZUKI, Y
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SUZUKI, Y
OCHII, K
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OCHII, K
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OCONNOR, KJ
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OCONNOR, KJ
KUSHNER, RA
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IEEE INTERNATIONAL SOLID STATE CIRCUITS CONFERENCE,
1983,
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CMOS/SOS 4K RAMS HARDENED TO 100 Krads(Si).
Napoli, L.S.
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Napoli, L.S.
Smeltzer, R.K.
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Smeltzer, R.K.
Yeh, J.L.
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Yeh, J.L.
Heagerty, W.F.
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Heagerty, W.F.
IEEE Transactions on Nuclear Science,
1982,
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[10]
CMOS/SOS 4K RAMS HARDENED TO 100 KRADS(SI)
NAPOLI, LS
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机构:
RCA CORP,CTR SOLID STATE TECHNOL,SOMERVILLE,NJ 08876
NAPOLI, LS
SMELTZER, RK
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SMELTZER, RK
YEH, JL
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RCA CORP,CTR SOLID STATE TECHNOL,SOMERVILLE,NJ 08876
YEH, JL
HEAGERTY, WF
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RCA CORP,CTR SOLID STATE TECHNOL,SOMERVILLE,NJ 08876
HEAGERTY, WF
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,
1982,
29
(06)
: 1707
-
1711
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