AUGER LIFETIMES FOR EXCITONS BOUND TO DEEP IMPURITIES IN SEMICONDUCTORS

被引:5
作者
JAROS, M
RIDDOCH, FA
DALIAN, L
机构
来源
JOURNAL OF PHYSICS C-SOLID STATE PHYSICS | 1983年 / 16卷 / 21期
关键词
D O I
10.1088/0022-3719/16/21/001
中图分类号
O469 [凝聚态物理学];
学科分类号
070205 ;
摘要
引用
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页码:L733 / L739
页数:7
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