FLUORESCENCE LIFETIME MEASUREMENT OF SEMICONDUCTOR DOPED GLASS BY USING AN INCOHERENT-LIGHT GATED OPTICAL KERR SHUTTER

被引:14
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作者
NAKATSUKA, H [1 ]
KATSAHIMA, Y [1 ]
INOUYE, K [1 ]
YANO, R [1 ]
UEMURA, S [1 ]
机构
[1] KYOTO UNIV,FAC SCI,DEPT PHYS,KYOTO 606,JAPAN
关键词
D O I
10.1016/0030-4018(89)90353-2
中图分类号
O43 [光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
摘要
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页数:4
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