PERMITTIVITY MEASUREMENTS AT SUBMILLIMETER WAVELENGTHS

被引：11
作者：
TAUB, JJ
HINDIN, HJ
机构：
来源：
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1963年 / 34卷 / 09期
关键词：
D O I：
10.1063/1.1718662
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要：
引用
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页码：1056 / &
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共 5 条
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