STRUCTURE-ANALYSIS WITH X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY (XPS) AND AUGER-ELECTRON SPECTROSCOPY (AES)

被引：0
作者：
EBEL, H
FALK, H
机构：
[1] TH VIENNA,INST TECH PHYS,KARLSPLATZ 13,A-1040 VIENNA,AUSTRIA
[2] UNIV VIENNA,LEHRKANZEL ORG CHEM,VIENNA,AUSTRIA
来源：
FRESENIUS ZEITSCHRIFT FUR ANALYTISCHE CHEMIE | 1975年 / 273卷 / 05期
关键词：
D O I：
10.1007/BF00996678
中图分类号：
O65 [分析化学];
学科分类号：
070302 ; 081704 ;
摘要：
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页码：368 / 373
页数：6
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[1]  
Baker A. D., 1972, PHOTOELECTRON SPECTR
[2]  
BERENYI D, 1974, 16 AT KOZL KOT, P27
[3]  
EBEL H, 1974, INT C ELECTRON SPECT
[4]   CHARGING EFFECT IN X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROMETRY [J].
EBEL, MF ;
EBEL, H .
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA, 1974, 3 (03) :169-180
[5]  
EBEL MF, 1974, VAKUUM-TECH, V23, P33
[6]  
EBEL MF, 1974, 10 S THEOR CHEM
[7]   CHEMISTRY OF PYRROLE PIGMENTS .2. X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTRA OF SOME PYRROLE PIGMENTS [J].
FALK, H ;
HOFER, O ;
LEHNER, H .
MONATSHEFTE FUR CHEMIE, 1974, 105 (02) :366-378
[8]  
FALK H, 1974, 10 S THEOR CHEM SEMM
[9]  
FELLNERFELDEGG H, 1974, INT C ELECTRON SPECT
[10]  
Fischer H, 1927, LIEBIGS ANN CHEM, V452, P268
123