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CHARACTERIZATION OF THIN-FILM ZNSE COATINGS USING IR ELLIPSOMETRY
被引：0
作者：
FRANKLIN, A
HENGEHOLD, RL
OBRIEN, D
机构：
[1] USAF,MAT LAB,WRIGHT PATTERSON AFB,OH
[2] USAF,INST TECHNOL,WRIGHT PATTERSON AFB,OH
来源：
BULLETIN OF THE AMERICAN PHYSICAL SOCIETY
|
1976年
/
21卷
/
07期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O4 [物理学];
学科分类号：
0702 ;
摘要：
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页码：931 / 931
页数：1
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