APPLICATION OF AC MAGNETIC-FIELD COMPENSATION TO A SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE

被引：2

作者：

GEMPERLE, A ^{[1
]}

NOVAK, J ^{[1
]}

机构：

[1] CZECHOSLOVAK ACAD SCI, PRAGUE, CZECHOSLOVAKIA

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1976年 / 9卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/9/6/020

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页数：6