DIRECT LATTICE IMAGING OF SILICON-CARBIDE

被引：5

作者：

GAI, PL ^{[1
]}

ANDERSON, JS ^{[1
]}

RAO, CNR ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV OXFORD,INORG CHEM LAB,OXFORD OX1 3QR,ENGLAND

来源：

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3727/8/13/002

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：L157 / &

共 6 条

ALLPRESS, JG ;

SANDERS, JV .

[2] ELECTRON-MICROSCOPE IMAGE CONTRAST FOR THIN CRYSTALS [J].

COWLEY, JM ;

IIJMA, S .

ZEITSCHRIFT FUR NATURFORSCHUNG PART A-ASTROPHYSIK PHYSIK UND PHYSIKALISCHE CHEMIE, 1972, A 27 (03) :445-+

HUTCHISON, JL ;

ANDERSON, JS .

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE, 1972, 9 (01) :207-+

[4] ELECTRON-MICROSCOPY OF BARIUM FERRITE LAYER STRUCTURES [J].

MCCONNELL, JD ;

HUTCHISON, JL ;

ANDERSON, JS .

SMITH, GH ;

BURGE, RE .

[6]

VERMA AR, 1966, POLYMORPHISM POLYTPI