TM-MODE PERTURBATION ANALYSIS OF DIELECTRIC GRATINGS

被引：28
作者：
PENG, ST [1 ]
TAMIR, T [1 ]
机构：
[1] POLYTECH INST NEW YORK,DEPT ELECT ENGN & ELECTROPHYS,333 JAY ST,BROOKLYN,NY 11201
来源：
APPLIED PHYSICS | 1975年 / 7卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1007/BF00900517
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
摘要：
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页数：4
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共 5 条
[1]   IMPROVED PERTURBATION ANALYSIS OF DIELECTRIC GRATINGS [J].
HANDA, K ;
PENG, ST ;
TAMIR, T .
APPLIED PHYSICS, 1975, 5 (04) :325-328
[2]   ANALYSIS OF PERIODIC THIN-FILM STRUCTURES WITH RECTANGULAR PROFILES [J].
PENG, ST ;
BERTONI, HL ;
TAMIR, T .
OPTICS COMMUNICATIONS, 1974, 10 (01) :91-94
[3]  
PENG ST, 1975, IEEE T, VMT23, P123
[4]  
TAMIR T, 1973, OPTIK, V37, P204
[5]  
TAMIR T, 1973, OPTIK, V38, P269
1