WEIGHTED RANDOM TEST-PATTERN GENERATOR

被引：72

作者：

SCHNURMANN, HD ^{[1
]}

LINDBLOOM, E ^{[1
]}

CARPENTER, RG ^{[1
]}

机构：

[1] IBM CORP,SYST PROD DIV,ENDICOTT,NY 13760

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/T-C.1975.224290

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：695 / 700

页数：6

共 7 条

[1] ALGORITHMS FOR DETECTION OF FAULTS IN LOGIC CIRCUITS [J].

BOURICIUS, WG ;

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PUTZOLU, GR ;

ROTH, JP ;

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[3]

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[4]

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