EMP SUSCEPTIBILITY OF INTEGRATED-CIRCUITS

被引：13

作者：

JENKINS, CR ^{[1
]}

DURGIN, DL ^{[1
]}

机构：

[1] BDM CORP,2600 YALE BLVD SE,ALBUQUERQUE,NM 87106

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1975年 / 22卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1975.4328156

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

收藏

页码：2494 / 2499

页数：6

相关论文

共 9 条

[1]

JENKINS CR, 1973, BDMA9873TR BRADD DUN

[2]

KLEINER C, 1974, X74745501 AUT REP

[3]

PENNY WM, MOS INTEGRATED CIRCU

[4]

SMITH JS, 1971, RADCTR7159 ROM AIR D

[5]

VANDRE RH, 1972, TR007331241 AER CORP

[6]

WUNSCH DC, 1968, IEEE T NUCL SCI, V15

[7]

1974, TR74280 AIR FORC WEA

[8]

1974, BOEING AER CO BRADD

[9]

1974, D224130431 DOC