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USE SIMULATION VECTORS TO GENERATE TEST VECTORS
被引：0
作者：
FRANZ, M
[1
]
机构：
[1] APPL MICRO CIRCUITS CORP,ADV DEV,SAN DIEGO,CA
来源：
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
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页码：233 / 238
页数：6
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