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RELIABILITY OF LEDS - ARE THE ACCELERATED AGING TESTS RELIABLE
被引:2
作者
:
FERENCZI, G
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
FERENCZI, G
机构
:
来源
:
ELECTROCOMPONENT SCIENCE AND TECHNOLOGY
|
1982年
/ 9卷
/ 04期
关键词
:
D O I
:
10.1155/APEC.9.239
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:239 / 242
页数:4
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