A MICROCOMPUTER-CONTROLLED EXPERIMENT TO MEASURE SEMICONDUCTOR MATERIAL PROPERTIES

被引：1

作者：

SINGER, KE

MCKELL, HD

机构：

来源：

INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRICAL ENGINEERING EDUCATION | 1982年 / 19卷 / 04期

关键词：

Compendex;

D O I：

10.1177/002072098201900405

中图分类号：

G40 [教育学];

学科分类号：

040101 ; 120403 ;

摘要：

SEMICONDUCTOR MATERIALS

引用

收藏

页码：307 / 315

页数：9

相关论文

empty

未找到相关数据