ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF DEFECTS INTRODUCED IN EPITAXIALLY GROWN GAAS-LAYERS DURING ELECTRON-BEAM METALLIZATION

被引：0
作者：
NEL, M
AURET, FD
LEITCH, AWR
机构：
来源：
SOUTH AFRICAN JOURNAL OF SCIENCE | 1988年 / 84卷 / 08期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O [数理科学和化学]; P [天文学、地球科学]; Q [生物科学]; N [自然科学总论];
学科分类号：
07 ; 0710 ; 09 ;
摘要：
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页码：710 / 711
页数：2
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