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EFFECTS OF STOICHIOMETRY ON DEEP LEVELS IN MOVPE GAP
被引:11
作者
:
YANG, XZ
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YANG, XZ
SAMUELSON, L
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SAMUELSON, L
GRIMMEISS, HG
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GRIMMEISS, HG
OMLING, P
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OMLING, P
机构
:
来源
:
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY
|
1988年
/ 3卷
/ 05期
关键词
:
D O I
:
10.1088/0268-1242/3/5/012
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:488 / 493
页数:6
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