THE PREPARATION OF CROSS-SECTION SPECIMENS FOR TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY

被引：383
作者：
BRAVMAN, JC
SINCLAIR, R
机构：
来源：
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY TECHNIQUE | 1984年 / 1卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1002/jemt.1060010106
中图分类号：
Q [生物科学];
学科分类号：
07 ; 0710 ; 09 ;
摘要：
引用
收藏
页码：53 / 61
页数：9
相关论文
共 3 条
[1]   CROSS-SECTIONAL SPECIMENS FOR TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY [J].
ABRAHAMS, MS ;
BUIOCCHI, CJ .
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1974, 45 (08) :3315-3316
[2]   TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY STUDIES OF THE POLYCRYSTALLINE SILICON-SIO2 INTERFACE [J].
BRAVMAN, JC ;
SINCLAIR, R .
THIN SOLID FILMS, 1983, 104 (1-2) :153-161
[3]   ADVANCES IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPE TECHNIQUES APPLIED TO DEVICE FAILURE ANALYSIS [J].
SHENG, TT ;
MARCUS, RB .
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY, 1980, 127 (03) :737-743
1