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MEASUREMENT OF EMI SHIELDING OF PLASTIC COMPOSITES USING A DUAL CHAMBER FACILITY
被引:30
作者
:
BIGG, DM
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0
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0
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0
机构:
Battelle, Columbus Lab, Columbus,, OH, USA, Battelle, Columbus Lab, Columbus, OH, USA
BIGG, DM
MIRICK, W
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机构:
Battelle, Columbus Lab, Columbus,, OH, USA, Battelle, Columbus Lab, Columbus, OH, USA
MIRICK, W
STUTZ, DE
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机构:
Battelle, Columbus Lab, Columbus,, OH, USA, Battelle, Columbus Lab, Columbus, OH, USA
STUTZ, DE
机构
:
[1]
Battelle, Columbus Lab, Columbus,, OH, USA, Battelle, Columbus Lab, Columbus, OH, USA
来源
:
POLYMER TESTING
|
1985年
/ 5卷
/ 03期
关键词
:
DUAL CHAMBER FACILITY - ELECTROMAGNETIC INTERFERENCE - EMI SHIELDING;
D O I
:
10.1016/0142-9418(85)90036-4
中图分类号
:
TB3 [工程材料学];
学科分类号
:
0805 ;
080502 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:169 / 181
页数:13
相关论文
共 5 条
[1]
BODNAR DG, 1979, AMMRC TR7949
[2]
BRADISH FW, 1982, SPE RETEC EMI RFI SH, V165
[3]
BRADISH FW, 1976, SPI REINFORCED PLAST, V31, pD7
[4]
STUTZ DE, 1981, 21 SO PROF PROGR SES
[5]
White D. R. J., 1971, EMI EMC HDB SERIES, V4
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共 5 条
[1]
BODNAR DG, 1979, AMMRC TR7949
[2]
BRADISH FW, 1982, SPE RETEC EMI RFI SH, V165
[3]
BRADISH FW, 1976, SPI REINFORCED PLAST, V31, pD7
[4]
STUTZ DE, 1981, 21 SO PROF PROGR SES
[5]
White D. R. J., 1971, EMI EMC HDB SERIES, V4
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