VOLTAGE DECAY MEASUREMENT OF PHOTOEXCITATION + TRAPPING OF CARRIERS IN SELENIUM

被引：16
作者：
REGENSBURGER, PJ
机构：
来源：
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1964年 / 35卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1063/1.1713756
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
摘要：
引用
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页码：1863 / &
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共 4 条
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