AN EASILY TESTABLE DESIGN OF PROGRAMMABLE LOGIC-ARRAYS FOR MULTIPLE FAULTS

被引：0
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作者：
SALUJA, KK
KINOSHITA, K
FUJIWARA, H
机构：
[1] HIROSHIMA UNIV,DEPT INFORMAT & BEH SCI,HIROSHIMA 730,JAPAN
[2] OSAKA UNIV,DEPT ELECTR ENGN,SUITA,OSAKA 565,JAPAN
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS | 1983年 / 32卷 / 11期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
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页码：1038 / 1046
页数：9
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