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THOROUGH ESD TESTING PREVENTS DIGITAL-DEVICE FIELD FAILURES
被引：0
作者：
DASH, G
[1
]
机构：
[1] DASH STRAUS & GOODHUE INC,BOXBOROUGH,MA
来源：
EDN MAGAZINE-ELECTRICAL DESIGN NEWS
|
1984年
/
29卷
/
16期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
引用
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页码：213 / &
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