TEMPERATURE-DEPENDENCE OF FERROMAGNETIC-RESONANCE LINEWIDTH IN PURE AND SUBSTITUTED BARIUM FERRITE

被引：14
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作者：
SILBER, LM
TSANTES, E
WILBER, WD
机构：
[1] US Army Electronics Technology &, Devices Lab, Fort Monmouth, NJ, USA, US Army Electronics Technology & Devices Lab, Fort Monmouth, NJ, USA
来源：
JOURNAL OF MAGNETISM AND MAGNETIC MATERIALS | 1986年 / 54-7卷
关键词：
BARIUM FERRITE - FERROMAGNETIC RESONANCE - TEMPERATURE DEPENDENCE;
D O I：
10.1016/0304-8853(86)90754-7
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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页码：1141 / 1142
页数：2
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