SILICON SURFACE BARRIER DETECTORS - FABRICATION TEST METHODS PROPERTIES AND SOME APPLICATIONS

被引：10
作者：
ANDERSSO.G
ZAUSIG, B
机构：
来源：
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1966年 / 40卷 / 02期
关键词：
D O I：
10.1016/0029-554X(66)90387-9
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要：
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共 23 条
  • [21] WEHMEYER R, 1966, THESIS HAMBURG
  • [22] ZAUSIG B, 1965, ANN PHYS, V15, P287
  • [23] ZAUSIG B, 1964, THESIS HAMBURG
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