SURFACE-ENHANCED RAMAN-SPECTROSCOPY OF ELECTROCHEMICALLY CHARACTERIZED INTERFACES - POTENTIAL DEPENDENCE OF RAMAN-SPECTRA FOR THIOCYANATE AT SILVER ELECTRODES

被引:111
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作者
WEAVER, MJ [1 ]
BARZ, F [1 ]
GORDON, JG [1 ]
PHILPOTT, MR [1 ]
机构
[1] IBM CORP, RES LABS, SAN JOSE, CA 95193 USA
关键词
D O I
10.1016/0039-6028(83)90575-7
中图分类号
O64 [物理化学(理论化学)、化学物理学];
学科分类号
070304 ; 081704 ;
摘要
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页数:20
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