COMPOSITION DEPTH INFORMATION FROM THE INELASTIC BACKGROUND SIGNAL IN XPS

被引：44
作者：
TOUGAARD, S
机构：
来源：
SURFACE SCIENCE | 1985年 / 162卷 / 1-3期
关键词：
D O I：
10.1016/0039-6028(85)90992-6
中图分类号：
O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];
学科分类号：
070304 ; 081704 ;
摘要：
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页数：11
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