APPLICATIONS OF LOW-TEMPERATURE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY

被引：62
作者：
HUEBENER, RP
机构：
来源：
REPORTS ON PROGRESS IN PHYSICS | 1984年 / 47卷 / 02期
关键词：
D O I：
10.1088/0034-4885/47/2/002
中图分类号：
O4 [物理学];
学科分类号：
0702 ;
摘要：
引用
收藏
页码：175 / 220
页数：46
相关论文
共 78 条
[71]  
VONGUTFELD RJ, 1968, PHYS ACOUSTICS, V5, P223
[72]  
WEIS O, 1969, Z ANGEW PHYSIK, V26, P325
[73]  
WELLS OC, 1974, SCANNING ELECTRON MI
[74]  
WILKE V, 1983, 1983 P SPIE INT TECH
[75]  
WILKE V, 1983, LASER OPTOELEKTRONIK, V515, P93
[76]   BALLISTIC HEAT PULSES IN CRYSTALS [J].
WOLFE, JP .
PHYSICS TODAY, 1980, 33 (12) :44-50
[77]  
Yakowitz H., 1975, PRACTICAL SCANNING E, P327
[78]  
ZAPPE HH, 1983, 1982 P NATO ADV STUD
12345678