IONIZING-RADIATION EFFECTS IN SOS STRUCTURES

被引：5
作者：
NEAMEN, D [1 ]
BUCHANAN, B [1 ]
SHEDD, W [1 ]
机构：
[1] USAF,SYST COMMAND,CAMBRIDGE RES LABS,BEDFORD,MA 01730
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1975年 / 22卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1109/TNS.1975.4328105
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：2197 / 2202
页数：6
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