A METHOD FOR EXTRACTING SPICE2 JUNCTION CAPACITANCE PARAMETERS FROM MEASURED DATA

被引：1
作者：
FREESE, BA
BULLER, GL
机构：
来源：
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS | 1984年 / 5卷 / 07期
关键词：
D O I：
10.1109/EDL.1984.25911
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：261 / 262
页数：2
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共 6 条
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