THE BOLTZMANN RESISTIVITY OF HEAVILY DOPED SEMICONDUCTORS - DEPENDENCE ON HOW THE SCATTERER IS EMBEDDED

被引:0
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作者
ENGSTROM, L
机构
来源
JOURNAL OF PHYSICS C-SOLID STATE PHYSICS | 1984年 / 17卷 / 28期
关键词
D O I
10.1088/0022-3719/17/28/015
中图分类号
O469 [凝聚态物理学];
学科分类号
070205 ;
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页数:11
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