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SPUTTERED TISI2 FILM PROPERTIES AS A FUNCTION OF DEPOSITION TEMPERATURE
被引:0
作者
:
TANIELIAN, M
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0
机构:
GOULD INC,RES CTR,ROLLING MEADOWS,IL 60008
GOULD INC,RES CTR,ROLLING MEADOWS,IL 60008
TANIELIAN, M
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BLACKSTONE, S
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GOULD INC,RES CTR,ROLLING MEADOWS,IL 60008
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BLACKSTONE, S
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LAJOS, R
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GOULD INC,RES CTR,ROLLING MEADOWS,IL 60008
GOULD INC,RES CTR,ROLLING MEADOWS,IL 60008
LAJOS, R
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1
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机构
:
[1]
GOULD INC,RES CTR,ROLLING MEADOWS,IL 60008
来源
:
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY
|
1984年
/ 131卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号
:
081704 ;
摘要
:
引用
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页码:C87 / C87
页数:1
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