CRACK-PROPAGATION AND FAILURE PREDICTION IN SILICON-NITRIDE AT ELEVATED-TEMPERATURES

被引：157

作者：

EVANS, AG ^{[1
]}

WIEDERHORN, SM ^{[1
]}

机构：

[1] NBS, WASHINGTON, DC 20234 USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1007/BF00550951

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：270 / 278

页数：9

共 16 条

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