WHOLE-FIELD STRAIN DETERMINATION BY MOIRE SHEARING INTERFEROMETRY

被引：14

作者：

WEISSMAN, EM ^{[1
]}

POST, D ^{[1
]}

ASUNDI, A ^{[1
]}

机构：

[1] VIRGINIA POLYTECH INST & STATE UNIV,DEPT ENGN SCI & MECH,BLACKSBURG,VA 24061

来源：

关键词：

D O I：

10.1243/03093247V192077

中图分类号：

TH [机械、仪表工业];

学科分类号：

0802 ;

摘要：

引用

页码：77 / 80

页数：4

共 5 条

[1]

DUNCAN JP, 1965, EXP MECH, V5, P22

Howland, RCJ .

[3] DEVELOPMENTS IN MOIRE INTERFEROMETRY [J].

POST, D .

[4] HIGH-SENSITIVITY MOIRE INTERFEROMETRY - A SIMPLIFIED APPROACH [J].

POST, D ;

BARACAT, WA .

WEISSMAN, EM ;

POST, D .