A HIGH-TEMPERATURE STRAINING STAGE (300-1000 K) FOR A 200 KV MICROSCOPE

被引：4
作者：
CARRARD, M
GUISOLAN, B
MARTIN, JL
机构：
来源：
JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1983年 / 16卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1088/0022-3735/16/6/009
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要：
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页码：480 / 482
页数：3
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