DATA ACQUISITION AND PROCESSING FOR PARALLEL-DETECTION ELECTRON ENERGY-LOSS SPECTROSCOPY

被引：0

作者：

KUNDMANN, MK ^{[1
]}

CHABERT, X ^{[1
]}

MEYER, C ^{[1
]}

KRIVANEK, OL ^{[1
]}

机构：

[1] GATAN RES & DEV,PLEASANTON,CA 94566

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1989年 / 38卷 / 04期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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