OPTICAL-SCANNING TUNNELING MICROSCOPE

被引：1

作者：

RADOJEWSKI, J ^{[1
]}

PAGNIA, H ^{[1
]}

SOTNIK, N ^{[1
]}

机构：

[1] TH DARMSTADT,INST ANGEW PHYS,W-6100 DARMSTADT,GERMANY

来源：

INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRONICS | 1992年 / 73卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1080/00207219208925774

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

Submicron-resolution optical tunnelling microscope construction and operation are briefly presented. Certain phenomena taking part in the image creation are discussed and their interpretation given

引用

页码：1087 / 1089

页数：3