COMPONENT VS SYSTEM BURN-IN TECHNIQUES FOR ELECTRONIC EQUIPMENT

被引：20

作者：

WHITBECK, CW

LEEMIS, LM

机构：

[1] Univ of Oklahoma, Norman, OK, USA

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY | 1989年 / 38卷 / 02期

关键词：

Burn-in Time Optimization - Electronic Assembly - Mean Residual Life Function;

D O I：

10.1109/24.31106

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

收藏

页码：206 / 209

页数：4

相关论文

共 3 条

[1]

JENSEN F, 1982, BURN IN ENG APPROACH

[2]

KUO W, 1983, P IEEE, V71, P1257, DOI 10.1109/PROC.1983.12763

[3] EXPONENTIAL POWER LIFE-TESTING DISTRIBUTION [J].

SMITH, RM ;

BAIN, LJ .

COMMUNICATIONS IN STATISTICS, 1975, 4 (05) :469-481