POINT-SOURCE FOR IONS AND ELECTRONS

被引:202
作者
FINK, HW
机构
来源
PHYSICA SCRIPTA | 1988年 / 38卷 / 02期
关键词
D O I
10.1088/0031-8949/38/2/029
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
引用
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页码:260 / 263
页数:4
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MULLER, EW .
ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK, 1951, 131 (01) :136-142
[12]   FIELD-ION MICROSCOPY - A REVIEW OF BASIC PRINCIPLES AND SELECTED APPLICATIONS [J].
PANITZ, JA .
JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1982, 15 (12) :1281-1294
[13]   TOPOGRAFINER - INSTRUMENT FOR MEASURING SURFACE MICROTOPOGRAPHY [J].
YOUNG, R ;
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SCIRE, F .
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1972, 43 (07) :999-&