DISCUSSION ON MEASURING METHODS OF ELECTRICAL-CONDUCTIVITY OF THIN-FILMS OF METAL-OXIDES

被引：0

作者：

GOTO, KS

NAGATA, K

ZHANG, LW

机构：

来源：

JOURNAL OF THE JAPAN INSTITUTE OF METALS | 1989年 / 53卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.2320/jinstmet1952.53.8_834

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页码：834 / 835

页数：2

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